[发明专利]基于异构平台的模型测试方法、异构芯片、设备及介质在审

专利信息
申请号: 202311071431.2 申请日: 2023-08-24
公开(公告)号: CN116841911A 公开(公告)日: 2023-10-03
发明(设计)人: 霍磊;袁福生;郑哲;王连忠;何凡;付英春;刘彬;李明月;贾建磊;田志仲;石丽月 申请(专利权)人: 北京智芯微电子科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 唐华健
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本说明书公开了一种基于异构平台的模型测试方法、异构芯片、设备及介质。其中,方法包括:响应于目标平台的选择操作,在至少一个端侧设备中确定与目标平台类型匹配的目标测试设备;目标测试设备上部署有目标模型测试程序,且提供有调用目标模型测试程序的测试接口;调用目标测试设备的目标测试接口以通过目标模型测试程序控制在目标测试设备上运行待测模型,得到端侧记录数据;控制在服务侧设备上运行初始模型,得到服务侧记录数据;根据端侧记录数据以及服务侧记录数据输出待测模型的测试结果。本说明书的实施例无需相关人员来编写测试所需的操作程序,直接调用预先封装好的标准化测试接口,便可实现对待测模型的测试过程,减少了测试时间。
搜索关键词: 基于 平台 模型 测试 方法 芯片 设备 介质
【主权项】:
暂无信息
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