[发明专利]面向X荧光品位分析仪的铜品位SCN建模算法在审

专利信息
申请号: 202311011756.1 申请日: 2023-08-11
公开(公告)号: CN116738120A 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 孙凯;赵磊;杨春鹏;郭俊美 申请(专利权)人: 齐鲁工业大学(山东省科学院)
主分类号: G06F17/10 分类号: G06F17/10;G06N20/00
代理公司: 济南格源知识产权代理有限公司 37306 代理人: 张蕾
地址: 250000 山*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及数据驱动的工业推理建模技术领域,提供了面向X荧光品位分析仪的铜品位SCN建模算法,包括以下步骤:1、采集实际铜矿浮选过程中XRF品位分析仪的数据,所述数据为独立观察样本的输入、输出数据,将采集的数据作为建立预测模型的历史样本数据库;2、进行数据预处理;3、使用局部离群因子LOF方法对X空间进行异常值检测,获得数据集;4、在标准SCN中引入广义M估计和L2正则化,重新定义SCN的损失函数;5、所研究算法应用于估算铜浮选过程中最终产品的铜品位。本发明克服了现有的载流X荧光分析仪由于测量数据存在多重共线性和离群值,精度不够的问题,有利于对铜品位进行高精度和快速的估计。
搜索关键词: 面向 荧光 品位 分析 scn 建模 算法
【主权项】:
暂无信息
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