[发明专利]数字IP测试系统及方法在审
申请号: | 202310968668.4 | 申请日: | 2023-08-03 |
公开(公告)号: | CN116718900A | 公开(公告)日: | 2023-09-08 |
发明(设计)人: | 请求不公布姓名 | 申请(专利权)人: | 上海灵动微电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/317 | 分类号: | G01R31/317;G06F11/22;G06F11/25;G06F11/263 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人: | 成春荣;竺云 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本申请涉及集成电路领域,公开了一种数字IP测试系统及方法,可以实现不同数字功能的遍历测试。该系统包括上位机、第一下载器、第二下载器、待测器件、控制器、监控设备以及通信数据线。上位机通过第一下载器将测试程序下载至待测器件,通过第二下载器将控制程序下载至控制器,以及发送测试指令,控制程序对应于测试程序。待测器件接受测试指令,向控制器和监控设备发出启动信号。控制器的通信接口与待测器件的通信接口对应,通过通信数据线连接,控制器加载控制程序,并接受启动信号以产生不同测试激励对待测器件进行测试。监控设备接受启动信号后截取通信数据线中的通信信号,获取待测器件的反馈信息以监控待测器件的测试过程状态。 | ||
搜索关键词: | 数字 ip 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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