[发明专利]一种结构样件耦合变形测量装置及系统在审
| 申请号： | 202310926522.3 | 申请日： | 2023-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN116642769A | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 耿洪滨;张翰兴;耿晨曦;张晓东;李兴冀 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01N3/32;G01N3/02;G01N3/04;G01M13/00;G01B21/32 |
| 代理公司： | 北京隆源天恒知识产权代理有限公司 11473 | 代理人： | 尹泽民 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本发明涉及材料检测技术领域，并提供一种结构样件耦合变形测量装置及系统，所述结构样件耦合变形测量装置包括环境箱、基准架、数控载荷加载机构、引出杆及位移传感器，基准架连接于环境箱内，且基准架的一端伸出环境箱设置，位移传感器连接于基准架上伸出环境箱的端部，基准架用于连接结构样件的一端，引出杆的一端用于与结构样件的另一端连接，引出杆的另一端伸出环境箱设置，并与数控载荷加载机构连接，位移传感器的检测端朝向引出杆设置，结构样件位于环境箱内，环境箱用于为结构样件提供不同的测量环境。进而在符合结构样件实际应用的环境中可高精度地测量结构样件的耦合变形，更加具有参考价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结构 样件 耦合 变形 测量 装置 系统 | ||
【主权项】：
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