[发明专利]不同高纯石英中晶格杂质含量的比较方法在审
申请号: | 202310889402.0 | 申请日: | 2023-07-18 |
公开(公告)号: | CN116930308A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 孙红娟;王振轩;刘波;彭同江 | 申请(专利权)人: | 西南科技大学 |
主分类号: | G01N27/626 | 分类号: | G01N27/626;G01N1/44;G01N1/28 |
代理公司: | 成都中玺知识产权代理有限公司 51233 | 代理人: | 潘银虎 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: |
本发明提供了一种不同高纯石英中晶格杂质含量的比较方法,包括步骤:对SiO |
||
搜索关键词: | 不同 高纯 石英 晶格 杂质 含量 比较 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西南科技大学,未经西南科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310889402.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电解铝嵌铜方钢结构及施工方法
- 下一篇:一种双电源控制机构