[发明专利]不同高纯石英中晶格杂质含量的比较方法在审

专利信息
申请号: 202310889402.0 申请日: 2023-07-18
公开(公告)号: CN116930308A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 孙红娟;王振轩;刘波;彭同江 申请(专利权)人: 西南科技大学
主分类号: G01N27/626 分类号: G01N27/626;G01N1/44;G01N1/28
代理公司: 成都中玺知识产权代理有限公司 51233 代理人: 潘银虎
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供了一种不同高纯石英中晶格杂质含量的比较方法,包括步骤:对SiO2质量分数≥99.99%的高纯石英颗粒进行消解定容,获得高纯石英的消解液;对不同高纯石英消解液中Na+与K+离子含量进行检测,若一种高纯石英所对应的Na+与K+离子含量均高于另一种高纯石英所对应的Na+与K+离子含量,且差值均大于所用检测仪器的误差限,则认为所述一种高纯石英中的晶格杂质含量高于另一种高纯石英中的晶格杂质含量。本发明具有更好的稳定性和准确性,可作为参考指标对比高纯石英中的晶格杂质含量,为高纯石英晶格杂质含量的评价及进一步提纯工艺技术的选择提供数据支撑。
搜索关键词: 不同 高纯 石英 晶格 杂质 含量 比较 方法
【主权项】:
暂无信息
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