[发明专利]一种宽频带微波集成电路测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 202310817791.6 申请日: 2023-07-05
公开(公告)号: CN116718897A 公开(公告)日: 2023-09-08
发明(设计)人: 郭敏;王亚海;徐宝令;朱学波;高媛;郑洪义;阎涛;王阳;王兆灿;王尊峰 申请(专利权)人: 中电科思仪科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 刘晓玉
地址: 266555 山*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种宽频带微波集成电路测试系统及方法,属于微波集成电路测试技术领域;本发明基于信号发生与测试分析一体化模块与待测试宽频带微波集成电路协同测控的双路相干信号,测试宽频带微波集成电路的源驻波特性,通过主控单元对数字信号处理控制单元、测试适配及路由连接电路、信号发生单元、信号分析单元以及待测试宽频带微波集成电路进行一体协同测控,能够完成对批量待测试宽频带微波集成电路的一次性连接和基于连续扫描模式的源驻波特性自动测试评估,解决了现有技术中存在“相应测试组成与操作复杂等所引入的成本、时间、测试仪器等资源消耗以及效率低下”的问题。
搜索关键词: 一种 宽频 微波集成电路 测试 系统 方法
【主权项】:
暂无信息
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