[发明专利]一种高集成度电气参数综合测量装置及其方法在审
| 申请号： | 202310809460.8 | 申请日： | 2023-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN116930644A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 何松星 | 申请（专利权）人： | 广州市森正电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;G01R19/00;G01R21/00 |
| 代理公司： | 北京红梵知识产权代理事务所(普通合伙) 11912 | 代理人： | 李星 |
| 地址： | 511356 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开的属于电气参数综合测量装置技术领域，具体为一种高集成度电气参数综合测量装置及其方法，包括外壳体，其内部能够对控制测量模块进行安装，并对控制测量模块进行电性连接，同时能够使检测装置与控制测量模块进行连接，且能够通过外壁插口和按键对控制测量模块进行操作和对电器进行测量，安装板组件，其设置在外壳体的内部下端，且能够与安装装置配合，方便对控制测量模块进行安装和放置，本发明能够使控制测量模块对测量电器进行电气测量，并对交流电转化成直流电传输，从而增加测量的精准性，同时能够对较大的电量进行防护，防止电量较大。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成度 电气 参数 综合 测量 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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