[发明专利]一种基于性能预测的天线波束指向偏差快速测量方法和系统在审
| 申请号： | 202310705580.3 | 申请日： | 2023-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN116840575A | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 阳开华;张春波;李健平;史骥;廖俊 | 申请（专利权）人： | 航天特种材料及工艺技术研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 | 代理人： | 邱晓锋 |
| 地址： | 100074 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明属于电磁场与微波技术领域，涉及一种基于性能预测的天线波束指向偏差快速测量方法和系统。该方法包括：获取采用寻零法测试的天线外壳的天线波束指向偏差值，逆向推导出每一个扫描角度对应的差方向图中的零深位置；对于待测试的天线外壳，在特定扫描角度下，寻零器从该扫描角度对应的零深位置开始扫描，获得采样点的电平值最低的位置，即为待测试的天线外壳的差方向图的零深位置，根据该位置计算该扫描角度下的天线波束指向偏差。本发明采用基于性能预测的方式进行天线外壳天线波束指向偏差测试，能大幅度提高天线波束指向偏差的测试效率，可用于大批量制造的同种类别的天线外壳天线波束指向偏差的快速测量，具有良好的工程应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 性能 预测 天线 波束 指向 偏差 快速 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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