[发明专利]基于离子阱对样品进行淌度分析的方法、离子阱质谱仪及其用途在审
| 申请号： | 202310686382.7 | 申请日： | 2023-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN116930306A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 周晓煜;欧阳证;王卓凡;范菁津 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N27/622 | 分类号： | G01N27/622;H01J49/42 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 黄德海 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提出了基于离子阱对样品进行淌度分析的方法、离子阱质谱仪及其用途。基于离子阱对样品进行淌度分析的方法包括：对待测样品进行离子化处理，以获得所述待测样品的多个待测离子；使多个所述待测离子进入离子阱；对所述待测离子进行AC振幅线性扫描，以令所述待测离子的一部分自所述离子阱中脱离；使探测器获取所述脱离所述离子阱的所述待测离子，以便获得所述待测样品的分析结果。该方法可以利用离子阱质谱仪实现高分辨率的淌度分析，适于分析复杂的生物、化学大分子同分异构体，且实施方式简单，利用微型离子阱质谱仪即可实现待测样品的精准分析。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 离子 样品 进行 分析 方法 质谱仪 及其 用途 | ||
【主权项】：
暂无信息
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