[发明专利]频率测量方法及装置在审
| 申请号： | 202310653467.5 | 申请日： | 2023-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN116953351A | 公开（公告）日： | 2023-10-27 |
| 发明（设计）人： | 刘建国;向子川;贾倩倩;李金野 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 肖慧 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开提供一种频率测量方法，其特征在于，包括：将馈入的待测微波信号调制到光载波上，得到调制信号；获取所述调制信号的光信号功率；根据所述光信号功率，计算微波频率测量结果。本公开提供的方法无需使用色散元件和光电探测器，结构简单易于集成小型化，系统相应时间快，功耗低，且可根据实际应用对测量范围和测量精度进行调整。 | ||
| 搜索关键词： | 频率 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所，未经中国科学院半导体研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310653467.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
