[发明专利]一种基于开关振荡的磁芯损耗测量系统与方法在审
| 申请号： | 202310636207.7 | 申请日： | 2023-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN116559739A | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 向大为;孙志文;李豪 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 赵志远 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于开关振荡的磁芯损耗测量系统及方法，该系统包括：可调直流电源：并联在直流电容两端，用于给直流电容充电；直流电容：为磁芯损耗测试提供能量；待测磁性元件：并联在直流电容两端；调频电容：并联在待测磁性元件两端，用于调整磁芯损耗测试的目标频率；开关：第一开关安装在直流电容与可调直流电源之间，用于控制直流电容充电；第二开关安装在直流电容与待测磁性元件之间，用于激发高频振荡；信号采集模块：测量流经待测磁性元件电流和调频电容两端电压；磁芯损耗计算模块：对测量得到的电感电流、电容电压进行计算处理，得到磁芯损耗数据并绘制磁芯损耗密度曲线。与现有技术相比，本发明具有精度高、简便高效的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 开关 振荡 损耗 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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