[发明专利]透过平行平板的摄影测量方法、系统、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202310578092.0 申请日: 2023-05-22
公开(公告)号: CN116642467A 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 何荣芳;张伟斌;赵伟;高国防;徐尧;刘本德;赵永忠;李海宁;肖盼;陶杰;曾媛;杨禧龙 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院化工材料研究所
主分类号: G01C11/02 分类号: G01C11/02
代理公司: 四川省天策知识产权代理有限公司 51213 代理人: 刘堋
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种透过平行平板的摄影测量方法、系统、设备及存储介质,该方法包括:视觉传感器、平行平板均架设固定于被测物一侧,平行平板在视觉传感器和被测物之间并靠近视觉传感器;视觉传感器在摄影测量系统标定过程中用于采集标定板图像,在测量过程中用于采集被测物图像;平行平板用于隔离测量系统以及被测物;标定板架设固定于平移台上,使标定板靶面法向量与平移台平移方向平行;平移台用于在标定过程平移标定板,为世界坐标系建立提供一维的尺度;数据处理系统用于完成图像处理以及相应数学运算。本发明采用采用成像光线追踪标定方法对测量系统进行标定,并对该方法的系统误差进行校正,实现了透过平行平板的高精度视觉测量。
搜索关键词: 透过 平行 平板 摄影 测量方法 系统 设备 存储 介质
【主权项】:
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