[发明专利]一种测试问题单的分析方法、系统、设备及存储介质在审
申请号: | 202310572724.2 | 申请日: | 2023-05-19 |
公开(公告)号: | CN116594890A | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 陈健巧;金颖媛;魏华;魏小平 | 申请(专利权)人: | 中银金融科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 郄晨芳 |
地址: | 200120 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了一种测试问题单的分析方法、系统、设备及存储介质,可应用于人工智能领域或金融领域,通过获取目标测试问题单的目标信息;根据预设报表模板对所述目标信息进行数据分析,得到处理结果;根据所述处理结果确定控制策略。即获取多条待分析测试问题单数据,结合人工智能分别根据多个参考分析数据对相应多条待分析数据进行分析处理,并生成最终分析结果。由此,能够有效的降低测试问题单数据分析的硬件配置成本,实现在有效地提升测试问题单分析的效率和智能化程度的同时,有效提升测试问题单处理效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 问题 分析 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中银金融科技有限公司,未经中银金融科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310572724.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种抑制高熵合金增材制造开裂的方法
- 下一篇:电子器件及其封装方法