[发明专利]一种测试电路及降低扫描测试中捕获阶段功耗的方法有效
| 申请号： | 202310508664.8 | 申请日： | 2023-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN116224045B | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 刘家正 | 申请（专利权）人： | 上海励驰半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 王金双 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种测试电路及降低扫描测试中捕获阶段功耗的方法，其中测试电路应用于功能模块，该电路包括：至少两个内部复位模块，用于一一对应地对功能模块内部的至少两个节点进行复位控制；至少两个保持寄存器，被配置为在扫描数据移入阶段输入并锁存测试向量，在捕获阶段输出锁存的测试向量，其输入第一扫描测试使能信号、功能逻辑模块的输出信号和测试向量；第一或门，其输入第二扫描测试使能信号和控制寄存器的输出信号；至少两个第二或门，其输入对应的保持寄存器的输出信号和第一或门的输出信号，其输出端连接对应的内部复位模块。由此，在DFT scan的捕获阶段，能够实现功能模块内部的部分节点处于复位状态，有效降低了捕获阶段功耗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 电路 降低 扫描 捕获 阶段 功耗 方法 | ||
【主权项】：
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