[发明专利]一种嵌入式系统的自动化测试方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202310465094.9 | 申请日： | 2023-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN116185880A | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 卢振平;秦维 | 申请（专利权）人： | 北京翼辉信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 潘登 |
| 地址： | 100095 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种嵌入式系统的自动化测试方法、装置、设备及介质。其中，该方法应用于上位机，上位机用于运行测试脚本和存储测试用例，上位机与待测嵌入式设备通过网络预先连接；该方法包括：若检测到自动测试指令，获取待测嵌入式设备的命令行解释器；从候选测试用例中确定一个测试用例作为目标测试用例，将目标测试用例上传至待测嵌入式设备中；通过命令行解释器控制待测嵌入式设备中的目标测试用例运行，得到目标测试用例的目标测试信息。本技术方案，能够通过上位机控制待测嵌入式设备的命令行解释器来获取实时测试信息，以便技术人员对测试过程中发生的错误进行及时查看和处理，有助于提高嵌入式系统的自动化测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 嵌入式 系统 自动化 测试 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
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