[发明专利]对量子设备进行基准测试的方法及系统在审
| 申请号： | 202310453385.6 | 申请日： | 2023-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN116484962A | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 黄甲辰;丁大威;陈建鑫 | 申请（专利权）人： | 阿里巴巴（中国）有限公司 |
| 主分类号： | G06N10/20 | 分类号： | G06N10/20;G01R31/28;G06N10/70;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京博浩百睿知识产权代理有限责任公司 11134 | 代理人： | 曾红芳 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州市余杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了用于对量子设备进行基准测试的系统和方法。根据所公开的实施例，基准测试方法可以包括根据概率分布从量子门组中获得M个量子门的序列。该量子门组中的量子门能够进行多项式时间经典模拟。该方法可以进一步包括通过将M个量子门的序列应用于量子计算设备的N个量子位来获得结果测量，并且获得在应用所述选择的M量子门的序列获得结果值的概率。可以使用所选量子门的序列的经典模拟来获得概率。可以至少部分基于所获得的概率来生成M个量子门的保真度基准。 | ||
| 搜索关键词： | 量子 设备 进行 基准 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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