[发明专利]一种智能显微成像晶体双折射相位差的测量装置和方法在审
| 申请号： | 202310429205.0 | 申请日： | 2023-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN116678834A | 公开（公告）日： | 2023-09-01 |
| 发明（设计）人： | 杨学宗;姜涵林;孙玉祥;李牧野;徐卫孝;马湘泽;顾庭玮;杨勋 | 申请（专利权）人： | 国科大杭州高等研究院 |
| 主分类号： | G01N21/23 | 分类号： | G01N21/23;G01N21/01 |
| 代理公司： | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人： | 邓世凤 |
| 地址： | 310024 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明的一种智能显微成像晶体双折射相位差的测量装置和方法，包括测量装置主体、激光光源部、采集部，激光光源部发出的线偏振激光经测量装置主体，旋转步进电机改变激光光源的线偏振方向，利用晶体双折射效应对不同方向线偏振激光光强度的调制，通过采集多幅不同线偏振方向下激光受晶体双折射调制后的光强分布图，计算得到晶体的双折射特性。本发明的一种智能显微成像晶体双折射相位差的测量装置和方法，通过相机采集到的探测光光强变化实现对晶体双折射信息的表征，较高的成像分辨率还可进行对晶体表面洁净度的表征。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 智能 显微 成像 晶体 双折射 相位差 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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