[发明专利]一种用于厚度方向介电性能测试的单齿电磁带隙结构谐振腔在审
| 申请号： | 202310414098.4 | 申请日： | 2023-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN116482190A | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 向锋;史志华;陈寅;王敏;蒲天长;张萌宇 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N27/22 | 分类号： | G01N27/22 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 王艾华 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种用于厚度方向介电性能测试的单齿电磁带隙结构谐振腔，属于微波、毫米波材料介电性能测试技术领域。该方法构造的单齿电磁带隙结构谐振腔，使用的测试模式为TE |
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| 搜索关键词： | 一种 用于 厚度 方向 性能 测试 单齿电 磁带 结构 谐振腔 | ||
【主权项】：
暂无信息
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