[发明专利]一种高精确度的铁磁共振线宽测量方法在审
申请号: | 202310406153.5 | 申请日: | 2023-04-17 |
公开(公告)号: | CN116482590A | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 张怀武;岳华伟;金立川;傅橙辉;臧百斐 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 甘茂 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于微波、毫米波段磁性材料参数测量领域,具体提供一种高精确度的铁磁共振线宽测量方法,用以解决现有微波铁氧体材料的铁磁共振线宽测量方法因测量磁场精度较大导致误差增大的问题。本发明以矢量网络分析仪为信号收发源,采用扫场步进依次递减的粗扫、第一次细扫及第二次细扫的测量流程,并且基于第一次细扫的拟合参数对第二次细扫的测试数据进行插值作为精度补偿,使测量数据更收敛,显著提高测量结果的精确度;同时,插值实现精度补偿能够有效解决磁场精度不足的问题,减小测量带来的误差,使测量数据得到更好的拟合效果,进而提高铁磁共振线宽测量的精确度;另外,本发明的测量方式对于常见谐振腔法与共面波导法等都适用。 | ||
搜索关键词: | 一种 精确度 磁共振 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310406153.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。