[发明专利]一种基于损耗因子的S参数自动化测量方法及系统在审
| 申请号： | 202310405189.1 | 申请日： | 2023-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN116430146A | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 文献;孙腊梅;罗丽云 | 申请（专利权）人： | 深圳市万兆通光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G06F17/18 |
| 代理公司： | 北京国源中科知识产权代理事务所(普通合伙) 16179 | 代理人： | 戈余丽 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区新安街道兴*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及S参数测量技术领域，具体地说，涉及一种基于损耗因子的S参数自动化测量方法及系统。其包括如下步骤：通过矢量网络分析仪以采集的方式测量S散射参量，并在不同时段下进行多次重复操作；将每次所采集的S散射参量进行标记，记为测量数据；建立容纳空间，通过容纳空间针对上述的测量数据进行储存，并对容纳空间设定储存容量值；确立不同时段下分类的测量数据，并将多组测量数据进行比对分析；分析S散射参量在不同时段下的变化状况。通过分析多组S散射参量测量数据中的数据情况，确定S散射参量的测量数据在不同时段下的变化状况，便于对器件在不同状况下的具体应用情况进行分析以及优化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 损耗 因子 参数 自动化 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市万兆通光电技术有限公司，未经深圳市万兆通光电技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310405189.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
