[发明专利]ADC采样方法、电路、系统及存储介质在审
| 申请号: | 202310396174.3 | 申请日: | 2023-04-14 |
| 公开(公告)号: | CN116112017A | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
| 发明(设计)人: | 吴宏;杨细芳 | 申请(专利权)人: | 湖南恩智测控技术有限公司 |
| 主分类号: | H03M1/12 | 分类号: | H03M1/12 |
| 代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 卓文君 |
| 地址: | 410205 湖南省长沙市高新开*** | 国省代码: | 湖南;43 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种ADC采样方法、电路、系统及存储介质,利用定时器进行通道切换和数据转换的控制,配置更加灵活,可最大限度发挥多通道模拟开关的速度、主控制器ADC模块的转换速度。同时,因为将原本需要由主控制器进行的切换通道、延迟、开始转换、等待准换结束等过程中的大部分步骤转换为利用定时器完成,从而可以极大的减少切换ADC通道、等待转换等过程需要占用主控制器的时间,从而极大的降低了主控制器的负荷,减少对用户使用更多其它功能的影响。本发明实施例的ADC采样方法极大的降低了采样过程对主控制器的占用时间,有效的提高了ADC的采样率,能够适应更多高精要求场景的需求,适合进行产业化推广。 | ||
| 搜索关键词: | adc 采样 方法 电路 系统 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖南恩智测控技术有限公司,未经湖南恩智测控技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310396174.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。





