[发明专利]一种基于图像处理的微波近场针-样距控制方法在审

专利信息
申请号: 202310379452.4 申请日: 2023-04-11
公开(公告)号: CN116559202A 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: 曾慧中;骆培文;张文旭 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00;G06T7/00;G06T7/246;G06T7/73
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种基于图像处理的微波近场针‑样距控制方法,属于近场微波测量领域。本发明通过将图像转换为数值矩阵并对其进行数学处理的方式,对图像中探针到样品表面的距离(针‑样距)进行识别,在探针移动的过程中,本发明可对针‑样距进行跟踪和修正且修正精度能达到16um。相对传统的激光位移传感器识别方案,本发明提供的针‑样距控制方法极大降低了近场微波测试中的测试成本,满足了对针‑样距控制的低成本、高精度的测试需求。
搜索关键词: 一种 基于 图像 处理 微波 近场 控制 方法
【主权项】:
暂无信息
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