[发明专利]一种用于脑部微组织结构测量的扩散弛豫谱成像方法在审

专利信息
申请号: 202310357175.7 申请日: 2023-04-04
公开(公告)号: CN116327167A 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 吴烨;周涛;张轶哲;秦姣龙 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 段宇轩
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种用于脑部微组织结构测量的扩散弛豫谱成像方法,包括:获取目标对象在多回波时间和多b值下的扩散磁共振数据;建立多组织脑微结构的扩散弛豫谱成像模型;通过基于球面平均技术的多参数联合优化方法获得多组织脑微结构的扩散弛豫时间和扩散敏感系数谱;将得到的弛豫时间、脑组织体积分数以及分布函数进行表征得到脑组织微观结构参数。本发明可提供组织成分特定的非T2加权的神经突内分数和自由水分数,解决了传统成分分数的TE依赖性。
搜索关键词: 一种 用于 脑部 组织 结构 测量 扩散 弛豫谱 成像 方法
【主权项】:
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