[发明专利]一种用于ATE测试设备的检测校准系统及其控制方法在审
| 申请号： | 202310327301.4 | 申请日： | 2023-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN116449277A | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 黎志祥;常国敏 | 申请（专利权）人： | 珠海芯业测控有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 尹长斌 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市高新区唐*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于ATE测试设备的检测校准系统及其控制方法，包括上位机、万用笔、检测校准模块及ATE测试设备，ATE测试设备包括测试资源板卡，测试资源板卡包括FPGA、数字通道或电源通道，上位机与ATE测试设备及万用笔连接，检测校准模块与ATE测试设备及万用笔连接；检测校准模块包括输入单元、电阻调节单元及多个万用表接口，输入单元包括若干条并联输入支路，每条输入支路包括串联连接的输入端口及第一控制开关，电阻调节单元包括若干条并联连接的电阻支路，每条电阻支路包括串联连接的第二控制开关及电阻。本发明实施例能够丰富测试功能、提高测量精度，可广泛应用于自动控制技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 ate 测试 设备 检测 校准 系统 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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