[发明专利]FPGA原型验证装置及其测试验证方法在审

专利信息
申请号: 202310305776.3 申请日: 2023-03-24
公开(公告)号: CN116432572A 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 李新兵;龙雨佳 申请(专利权)人: 上海芯联芯智能科技有限公司
主分类号: G06F30/331 分类号: G06F30/331;G06F8/61;G06F115/02
代理公司: 苏州简理知识产权代理有限公司 32371 代理人: 庞聪雅
地址: 200120 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种FPGA原型验证装置及其测试验证方法。所述FPGA原型验证装置包括待测单元、转换逻辑单元和多个第一管脚,所述待测单元包括有第二管脚,第一管脚和第二管脚与所述转换逻辑单元相连。将测试文件烧录至所述FPGA原型验证装置内,其中所述测试文件包括一个或多个测试程序,至少部分测试程序中包括管脚配置指令,所述管脚配置指令包括在此测试程序下的第一管脚和第二管脚的连接关系;执行所述测试文件中的各个测试程序,其中在执行一个具有管脚配置指令的测试程序时,先执行所述管脚配置指令以配置该测试程序下的第一管脚和第二管脚的连接关系,随后执行该测试程序中的剩余程序进行测试验证。这样,可以提高测试验证效率。
搜索关键词: fpga 原型 验证 装置 及其 测试 方法
【主权项】:
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