[发明专利]FPGA原型验证装置及其测试验证方法在审
申请号: | 202310305776.3 | 申请日: | 2023-03-24 |
公开(公告)号: | CN116432572A | 公开(公告)日: | 2023-07-14 |
发明(设计)人: | 李新兵;龙雨佳 | 申请(专利权)人: | 上海芯联芯智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/331 | 分类号: | G06F30/331;G06F8/61;G06F115/02 |
代理公司: | 苏州简理知识产权代理有限公司 32371 | 代理人: | 庞聪雅 |
地址: | 200120 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种FPGA原型验证装置及其测试验证方法。所述FPGA原型验证装置包括待测单元、转换逻辑单元和多个第一管脚,所述待测单元包括有第二管脚,第一管脚和第二管脚与所述转换逻辑单元相连。将测试文件烧录至所述FPGA原型验证装置内,其中所述测试文件包括一个或多个测试程序,至少部分测试程序中包括管脚配置指令,所述管脚配置指令包括在此测试程序下的第一管脚和第二管脚的连接关系;执行所述测试文件中的各个测试程序,其中在执行一个具有管脚配置指令的测试程序时,先执行所述管脚配置指令以配置该测试程序下的第一管脚和第二管脚的连接关系,随后执行该测试程序中的剩余程序进行测试验证。这样,可以提高测试验证效率。 | ||
搜索关键词: | fpga 原型 验证 装置 及其 测试 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海芯联芯智能科技有限公司,未经上海芯联芯智能科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310305776.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:模块式通电可发光和改变透明度的玻璃结构及玻璃制品
- 下一篇:一种宠物烘干箱