[发明专利]一种分析NAND读出错误数高的方法在审
| 申请号： | 202310286167.8 | 申请日： | 2023-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN116312710A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 蒋书斌;曹成;李瑞东 | 申请（专利权）人： | 山东华芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/04 | 分类号： | G11C29/04;G11C29/50 |
| 代理公司： | 济南泉城专利商标事务所 37218 | 代理人： | 支文彬 |
| 地址： | 250101 山东省济南市高新*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种分析NAND读出错误数高的方法，先从低频下分析是否为NAND通路问题，这样可以先排除其他因素干扰，首先确定是否为焊接、硬件电路、硬件工程等硬件方面原因。再分析是否为高频、软件代码或NAND特性的问题，提高分析排查问题的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分析 nand 读出 错误 方法 | ||
【主权项】：
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