[发明专利]模型试验柔性垫层净变形量的测量装置及测量方法在审

专利信息
申请号: 202310261955.1 申请日: 2023-03-17
公开(公告)号: CN116379988A 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 郑烨炜;汪美慧;贾亚飞;张军;纪明昌 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02;G01B21/32
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 杨震
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开了模型试验柔性垫层净变形量的测量装置及测量方法。在工作时,跟随柔性垫层一起移动,从位移计所读取的位移量即为柔性垫层的净变形量。从而可以直接测量柔性垫层的净变形量,数据准确。通过铁片、磁性座的磁吸配合而实现将位移计以可拆卸地方式安装在被测柔性垫层上,当柔性垫层的被测点位置出现褶皱等局部不平等影响测量准确性时,只需要将磁吸座从柔性垫层分离并对磁吸座位置微调,可微调位移计的放置倾斜姿态,这样有利于降低位移计安装位点的褶皱现象,这样避免了投放位移计后所致的柔性垫层局部不平整的问题,进一步确保了对测量点位置调整所达成的测量准确性。
搜索关键词: 模型 试验 柔性 垫层 变形 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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