[发明专利]一种光学非接触式高陡度轮廓测量装置在审

专利信息
申请号: 202310260931.4 申请日: 2023-03-17
公开(公告)号: CN116295103A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 李杰;杨文博;陈林 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G02B26/10;G02B27/09;G02B27/10;G02B6/42
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 邓治平
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种光学非接触式高陡度轮廓测量装置,属于精密测量领域。装置主要由精密运动执行模块,轮廓表面探测模块,精密位移测量模块构成。本发明使用具有一定安装倾角的光谱色散共焦位移测头实现高陡度轮廓的探测,利用二维正交直线运动台搭载测头按指定轨迹运动,结合被测零件在精密回转轴上的转动实现三维轮廓扫描。装置采用光纤导光的多轴双频激光干涉测距结合参考基准框架技术对测头的位移进行高精度测量并实现阿贝误差的补偿。本发明测量装置结构简化,可实现高陡度精密零件的超精密测量。
搜索关键词: 一种 光学 接触 陡度 轮廓 测量 装置
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310260931.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top