[发明专利]测试电子被测试器件的装置、方法以及计算机软件产品在审
| 申请号： | 202310256550.9 | 申请日： | 2023-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN116893334A | 公开（公告）日： | 2023-10-17 |
| 发明（设计）人： | 塔尔·克莱因;罗尼·阿布布尔;埃雷兹·格拉斯伯格;约拉姆·阿维格多 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 贺财俊;黄健 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种用于产生自动测试设备(ATE)测试样型以对电子被测试器件(DUT)进行测试的装置、方法以及计算机软件产品，所述电子DUT包括电路系统、至少一个输入端口及至少一个输出端口。所述装置包括存储器及处理器。存储器被配置成存储：(i)IC的硬体验证语言(HVL)模型，所述HVL模型包括对所述至少一个DUT输入端口进行建模的模型输入以及对所述至少一个DUT输出端口进行建模的模型输出，所述HVL模型被配置成在忽视电路系统的情况下响应于模型输入的逻辑状态来确定模型输出的逻辑状态；以及(ii)仿真程序，被配置成对DUT的HVL模型进行仿真。处理器被配置成通过运行仿真程序来针对DUT产生ATE测试样型。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电子 器件 装置 方法 以及 计算机 软件产品 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华邦电子股份有限公司，未经华邦电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310256550.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
