[发明专利]设备测试方法、电子设备、测试系统及存储介质在审
| 申请号： | 202310248109.6 | 申请日： | 2023-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN116436817A | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 李超;刘元财;张泫舜;陈浩宇 | 申请（专利权）人： | 深圳市正浩创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L43/0805 | 分类号： | H04L43/0805;H04L43/065;H04L67/125;H04L43/50;H04L67/141 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 欧国聪 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请适用于机器人技术领域，提供了一种设备测试方法、电子设备、测试系统及存储介质，其中，方法包括：获取待检测设备的第一设备标识；接收目标扫描设备发送的第二设备标识；若获取到的第一设备标识中，存在与第二设备标识相匹配的目标设备标识，则向目标待检测设备发送测试开启指令；接收自检结果信息，以及根据自检结果信息生成设备检测报告。本申请的方案，实现了在具有多个自移动设备同时与测试服务器通信的测试环境中，无需多个自移动设备进行尝试，即可实现对单个目标待检测设备的精准检测，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 设备 测试 方法 电子设备 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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