[发明专利]一种新型磁环外表瑕疵检测结构在审
| 申请号： | 202310244121.X | 申请日： | 2023-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN116203030A | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 王亚辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市米米自动化有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01;G01N21/95;G01B11/06 |
| 代理公司： | 深圳市中科天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 44868 | 代理人： | 宋鹏跃 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种新型磁环外表瑕疵检测结构，包括上料装置、检测装置、下料装置和PC端；磁环从上料装置运输至检测装置，检测装置对磁环进行磁环外表瑕疵检测并将检测结果上传至PC端，检测完的磁环从检测装置运输至下料装置并根据PC端判定结果对磁环进行分类；磁环位于旋转治具上，磁环旋转，第一相机和第四相机将磁环内孔表面、内倒角表面和端面全部成像，第二相机则将磁环外圆柱面、两个外倒角都成像，扫描相机采集图像时，是一条线不断采集，而磁环旋转，将使得扫描线覆盖的面全部都成像出来；采用全方位扫描拍照的方法，一次性检测出磁环所有瑕疵；检测效果好，不需要很多设备调试时间，就能进行生产检测；更换磁环种类，也非常迅速容易。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 外表 瑕疵 检测 结构 | ||
【主权项】：
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