[发明专利]辐射杂散发射测试方法、装置、芯片、设备、系统及介质有效
| 申请号： | 202310225636.5 | 申请日： | 2023-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN115932417B | 公开（公告）日： | 2023-07-04 |
| 发明（设计）人： | 张宏伟;靳应祥;王鑫元 | 申请（专利权）人： | 荣耀终端有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 王莹辉 |
| 地址： | 518040 广东省深圳市福田区香蜜湖街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种辐射杂散发射测试方法、装置、芯片、设备、系统及介质，该方法包括：在电子设备发射信号的情况下，分别获取电子设备在目标参数的不同信息下的辐射杂散发射测试值，目标参数包括影响电子设备的辐射杂散发射测试值的参数；获取第一信息，电子设备在目标参数的第一信息下的辐射杂散发射测试值不低于电子设备在目标参数的至少一个其他信息下的辐射杂散发射测试值；在电子设备发射信号、且目标参数的信息为第一信息的情况下，控制敲击设备执行第一操作，第一操作用于敲击电子设备的第一电连接点；获取目标信息，目标信息用于描述电子设备的辐射杂散发射测试值在敲击设备执行第一操作期间的变化。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 散发 测试 方法 装置 芯片 设备 系统 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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