[发明专利]基于标准F-18薄膜源的F-18辐射监测仪检定方法在审
| 申请号： | 202310195376.1 | 申请日： | 2023-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN116299633A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 刘朋波;曲广卫;靳磊;陈禹轩;聂世宾;牛玉宁 | 申请（专利权）人： | 陕西卫峰核电子有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/167 | 分类号： | G01T1/167;G01T7/00 |
| 代理公司： | 西安维赛恩专利代理事务所(普通合伙) 61257 | 代理人： | 李明全 |
| 地址： | 710117 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于标准F‑18薄膜源的F‑18辐射监测仪检定方法，包括：采用医用F‑18脱氧葡萄糖溶液制备标准F‑18薄膜源；用标准F‑18薄膜源对F‑18辐射监测仪进行过载检测，若过载之后与过载之前F‑18辐射监测仪的符合多道F‑18感兴趣区计数的平均值偏差大于过载阈值，则F‑18辐射监测仪检定结束，否则利用标准F‑18薄膜源对F‑18辐射监测仪进行变异系数检测；若变异系数大于变异阈值，则F‑18辐射监测仪检定结束，否则利用标准F‑18薄膜源对F‑18辐射监测仪进行相对固有误差检测；若相对固有误差大于相对固有误差阈值，则F‑18辐射监测仪检定结束，否则利用标准F‑18薄膜源对F‑18辐射监测仪进行重复性检测。该方法填补了F‑18辐射监测仪检定技术空白，能够有效检定F‑18辐射监测仪是否测量准确或者合格。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 标准 18 薄膜 辐射 监测 检定 方法 | ||
【主权项】：
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