[发明专利]一种标量共形阵列的信号极化参数测量方法在审

专利信息
申请号: 202310191112.9 申请日: 2023-03-02
公开(公告)号: CN116299282A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 汪亚龙;李军;王嘉恒;付小川;张嘉兴;李会勇;何子述 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41;G01S7/36;G06F17/11;G06F17/16
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 周刘英
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种标量共形阵列的信号极化参数测量方法,属于阵列信号处理技术领域。本发明包括:步骤一:综合考虑载体遮蔽效应和极化敏感性,根据阵元局部方向图,建立共形阵列模型;步骤二:建立共形阵列接收信号模型;步骤三:利用共形阵列中摆放指向各异的阵元对信号的极化敏感特性选取部分阵元构造观测方程;步骤四:基于最小二乘法估计信号的极化参数。该方法避免了常规极化测量中两个正交极化通道的交叉极化耦合度对极化测量的影响,同时也避免了隔离、校准和切换等环节,以较小的代价获得了较高的实用价值。
搜索关键词: 一种 标量 阵列 信号 极化 参数 测量方法
【主权项】:
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