[发明专利]一种基于绝缘泄露电流的绝缘老化寿命评估方法及系统在审
| 申请号： | 202310164554.4 | 申请日： | 2023-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN116106702A | 公开（公告）日： | 2023-05-12 |
| 发明（设计）人： | 吕泽鹏;曹丹;吴锴;康惠馨;梁启璐 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12;G06F30/20;G01R31/52;G01R31/58;G06F119/04;G06F119/08;G06F111/08;G06F113/16;G06F113/08 |
| 代理公司： | 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 | 代理人： | 薛俊波 |
| 地址： | 710000 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于绝缘泄露电流的绝缘老化寿命评估方法及系统，涉及电力绝缘老化寿命评估技术领域，包括以下步骤：对已知的不同运行年限的电力电缆分别进行极化去极化电流测试实验，并获取电缆绝缘材料的极化去极化电流测试数据；对电缆绝缘材料的老化寿命作三个假设，并依据这三个假设推导电缆绝缘材料的老化寿命与电缆的电导电流密度之间的关系；将所获取电缆绝缘材料的极化去极化电流测试数据，以及所推导的电缆绝缘材料的老化寿命与电缆的电导电流密度之间的关系定量关联，确定电缆绝缘材料的老化寿命与电缆的电导电流密度之间的关系。本发明的绝缘老化寿命测试方法具有非破坏性、诊断信息量丰富，可用于评估各种绝缘材料的老化寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 绝缘 泄露 电流 老化 寿命 评估 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学，未经西安交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310164554.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
