[发明专利]一种低频窄脉宽交流光响应度测试方法在审
| 申请号： | 202310088054.7 | 申请日： | 2023-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN116086630A | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 刘果;龙志刚;章浩;李常林 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00;G01R29/02 |
| 代理公司： | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人： | 方钟苑 |
| 地址： | 400060 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种低频窄脉宽交流光响应度测试方法，属于光电探测领域，包括以下步骤：S1：在光电探测器中设置低噪声前放电路，作为标准探测器；S2：使用1：1分光比的光分路器将激光器的光信号分为两路；S3：一路光进入标准探测器，将窄脉冲光功率转化为电压信号进行检测；S4：另一路光进入待测光电探测器进行加光测试；S5：通过示波器和计算机采集待测光电探测器与标准探测器的光电信号；S6：当激光器出现瞬时光不稳定的情况时，计算机根据标准探测器反馈到示波器上的信号波动幅度，对待测光电探测器在示波器上的示数进行补偿，实现对探测器类产品的交流响应度的准确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 低频 窄脉宽交 流光 响应 测试 方法 | ||
【主权项】：
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