[发明专利]一种颗粒静电荷的采样测定方法在审
| 申请号： | 202310067011.0 | 申请日： | 2023-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN116087634A | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 段晨龙;陆俊宇;王维楠;乔金鹏 | 申请（专利权）人： | 中国矿业大学 |
| 主分类号： | G01R29/24 | 分类号： | G01R29/24 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人： | 程虹 |
| 地址： | 221116 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种颗粒静电荷的采样测定方法，属于颗粒静电荷采样测定技术领域，用以解决现有技术中颗粒静电荷测定中采样和测定分步进行、采样操作会导致待测颗粒的静电荷发生变化影响测定的准确性的问题。该方法包括：启动电荷计的预热功能；开启负压吸引装置，检查采样测定系统的整体气密性；启动电荷计的电荷采集功能，将采样管的进样端靠近待测颗粒，待测颗粒在负压吸引作用下通过采样管被吸入颗粒腔中，待测颗粒在采样管、接触片和颗粒腔中通过接触带电和感应带电的方式将待测颗粒上的电荷传导至电荷计，电荷计测定计算得到待测颗粒的电荷参数。本发明可用于颗粒静电荷采样和测定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 静电荷 采样 测定 方法 | ||
【主权项】：
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