[发明专利]检测装置及检测系统在审
| 申请号： | 202310027169.5 | 申请日： | 2023-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN116428953A | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 中西贵之 | 申请（专利权）人： | 株式会社日本显示器 |
| 主分类号： | G01B7/004 | 分类号： | G01B7/004 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 纪秀凤 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种能够抑制接近检测坐标获取精度降低的检测装置及检测系统。检测装置具备：传感器基板；多个电极，在传感器基板的检测区域沿第一方向及与第一方向不同的第二方向排列设置；检测电路，基于从多个电极输出的检测信号，生成每个电极的检测值；以及处理电路，生成表示检测区域上的被检测体的位置的空间坐标。空间坐标包含表示第一、二及与第一、二正交的第三方向的位置的第一、二、三数据。处理电路设定有针对检测值的第一阈值及比第一阈值大的第二阈值。在每个电极的检测值中的至少1个为第一阈值(Sth1)以上且小于第二阈值时，基于多个电极的检测值(S(n))获取第一、二及三数据，生成包含它们的空间坐标(R(Rx，Ry，Rz))。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日本显示器，未经株式会社日本显示器许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310027169.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
