[发明专利]图像下采样方法和装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202310025374.8 申请日: 2023-01-09
公开(公告)号: CN116055736A 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 胡雪梅;朱祖建;张越;林艳星 申请(专利权)人: 瑞芯微电子股份有限公司
主分类号: H04N19/182 分类号: H04N19/182;H04N19/85;H04N5/262;G06V10/44
代理公司: 福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214 代理人: 柯玉珊
地址: 350000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了图像下采样方法和装置、电子设备和存储介质。该方法包括:根据预设的采样模式逐一获取图像中的像素数据组;若所述像素数据组包括数据边界,则根据所述数据边界的类型选择对应的扩边模式;以及获取所述扩边模式中预设的扩边权重值,以根据所述扩边权重值对所述像素数据组进行均值计算,得到扩边均值数据。本发明不仅实现了动态调整不同扩边处理下的三均值计算,节约下采样过程中频繁的延时等待时间,并且在硬件实现上本发明的可循环步骤能够实现多模块级联,以此实现图像的多级下采样,且不增加硬件面积。
搜索关键词: 图像 采样 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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