[发明专利]基于原子磁强计的材料磁导率温度稳定性测试装置及方法在审
| 申请号： | 202310019095.0 | 申请日： | 2023-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN116047385A | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 马丹跃;孙博文;陆吉玺;翟跃阳;全伟;马彦宁;王耀国;吕浩然;韩邦成 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 吴小灿 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 基于原子磁强计的材料磁导率温度稳定性测试装置及方法，其特征在于：包括原子磁强计、磁材料层、柔性加热线圈、温度传感器、模拟磁场线圈、磁屏蔽单元、磁场控制模块、温度数据采集模块、温度控制模块、磁强计电路采集控制模块以及多功能上位机，原子磁强计测试磁材料层的磁屏蔽系数，柔性加热线圈将磁材料层加热到特定温度后，原子磁强计测量磁噪声，并将磁噪声带入屏蔽系数与磁导率的关系式计算出不同温度下的材料磁导率，分析材料磁导率温度稳定性，有利于原位测量成型磁屏蔽桶材料的磁导率温度稳定性，同时能有效避免传统磁导率测试方法中的多次测量、线圈匝数影响、测试电压和频率无法灵活调节等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 原子 磁强计 材料 磁导率 温度 稳定性 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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