[发明专利]自动分析装置在审
| 申请号： | 202280014776.1 | 申请日： | 2022-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN116848416A | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 堀川大空;深谷昌史 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;文志 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明的目的在于提供一种自动分析装置，其能够实现光源的长寿命化，并且在测定前使光量在短时间内稳定。因此，本发明的自动分析装置具备：光源，其具有波长不同的两个以上的LED元件；分析部，其基于照射到反应容器的光进行分析；以及电流调整部，其调整向每个所述LED元件供给的电流量，所述电流调整部使非分析状态下的每个所述LED元件的电流量为相对于分析状态下的电流量单独减少后的值。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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