[外观设计]X射线荧光光谱仪（XF-T7/XF-T8）有效
| 申请号： | 202230437126.0 | 申请日： | 2022-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN307688712S | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 邵波 | 申请（专利权）人： | 西凡仪器(深圳)有限公司 |
| 主分类号： | 10-05 | 分类号： | 10-05 |
| 代理公司： | 深圳市中智立信知识产权代理有限公司 44427 | 代理人： | 刘英玉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 1.本外观设计产品的名称：X射线荧光光谱仪（XF‑T7/XF‑T8）。2.本外观设计产品的用途：一种利用能量散射型 X 射线荧光分析技术的智能化无损检测仪器,能准确的 检测出黄金、铂金、钯金、K 金、K 白金等饰品中各种元素含量。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 荧光 光谱仪 xf t7 t8 | ||
【主权项】：
暂无信息
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