[实用新型]一种探针测试装置有效
| 申请号： | 202223467622.4 | 申请日： | 2022-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN219369843U | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 丁希岳;骆乾峰;赵龙;金从龙 | 申请（专利权）人： | 江西兆驰半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司： | 南昌旭瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 36150 | 代理人： | 彭琰 |
| 地址： | 330000 江西省南昌市南*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种探针测试装置，该探针测试装置包括底座、纵向设置在底座上相对两侧的限位组件以及横向设置在底座上相对两侧的检测组件，底座上开设有贯穿底座的载片槽，载片槽内设有玻璃基板和设置在玻璃基板一侧的覆铜片，限位组件包括推杆与推杆连接的第一驱动机构，检测组件包括滑台、与滑台侧面连接的第二驱动机构，设置在第二驱动机构上用于检测芯片的探针以及与滑台底部连接的第三驱动机构，通过调节第一驱动结构和第三驱动机构，使得探针悬置在芯片正上，再通过第二驱动机构使得探针扎到芯片的待测点。本实用新型中的探针测试装置，解决了现有技术中的缺少一种体积小且可以对各种结构类型的LED芯片进行上电检测的探针测试装置的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探针 测试 装置 | ||
【主权项】：
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