[实用新型]用于加速度计的测试机构及测试系统有效
| 申请号： | 202223357631.8 | 申请日： | 2022-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN219496429U | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 王清华 | 申请（专利权）人： | 上海矽睿科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01P21/00 | 分类号： | G01P21/00 |
| 代理公司： | 上海港慧专利代理事务所(普通合伙) 31402 | 代理人： | 郭嘉莹 |
| 地址： | 200050 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于加速度计的测试机构，包括底座、上盖、锁紧件及压块。底座用于承载加速度计的芯片；上盖可转动地连接于所述底座，且所述上盖转动的过程中具有压紧位置；锁紧件在同时与所述底座及所述上盖连接时将所述上盖固定于所述压紧位置；压块设置于所述上盖，且所述压块具有开设避位槽的压紧面；当所述上盖处于所述压紧位置时，所述压紧面抵压于所述芯片，以将所述芯片压紧固定，所述避位槽在所述芯片上的投影覆盖所述芯片内的质量块。由于避位槽在芯片上的投影覆盖质量块，即压紧面与质量块相错开，故压块的压力不会直接传递至质量块，避免压力干扰测试结果，确保测试精度。本实用新型还涉及一种用于加速度计的测试系统。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 加速度计 测试 机构 系统 | ||
【主权项】：
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