[实用新型]用于元器件性能测试的多功能测试治具有效
| 申请号： | 202223301961.5 | 申请日： | 2022-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN219349012U | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 王露云;苏相河;易志福;郑鸿斌;张碧星;权鹏 | 申请（专利权）人： | 惠州攸特电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 唐超 |
| 地址： | 516006 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及测试治具技术领域，具体是一种适用于元器件的多功能测试治具，包括底板及检测部件，检测部件包括附带测试探针的第一检测机构、第二检测机构与第三检测机构，三个检测机构分别用于不同测试，底板上安装有测试台，测试台上安装有支架，第一检测机构与第二检测机构安装于支架上且位于测试台上方，测试台顶部设有若干个测试铜条，第三检测机构安装于底板上且位于测试台长度方向一侧，三个检测机构的测试探针分别与外部三个不同测试设备电性连接，本实用新型在进行产品测试时，用户只需将产品放置一次，即可完成对产品的多项性能测试，无需多次取放产品，节省测试时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 元器件 性能 测试 多功能 | ||
【主权项】：
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