[实用新型]一种RDT高低温老化全自动测试设备有效
| 申请号： | 202223181089.5 | 申请日： | 2022-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN218609490U | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 胡宇挺;陈健;陈奎 | 申请（专利权）人： | 晶太集成电路（台州）有限公司 |
| 主分类号： | B01L7/00 | 分类号： | B01L7/00;B01L1/00 |
| 代理公司： | 北京卓特专利代理事务所(普通合伙) 11572 | 代理人： | 段宇 |
| 地址： | 317523 浙江省台州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种RDT高低温老化全自动测试设备，包括机身、设于机身上方的检测箱以及设于检测箱前侧的箱口，箱口左侧内壁铰接有与其相匹配的密封门，所述检测箱左右两侧外壁皆设有互为对称的温控腔；所述温控腔左侧腔口设有一呈口字型的固定台阶；所述固定台阶上设有与其相匹配的防护板，防护板将温控腔左侧腔口遮蔽；所述温控腔邻近检测箱中心的腔壁上设有一上隔板、位于上隔板正下方的下隔板。本实用新型的RDT高低温老化全自动测试设备不仅能够保证调温效率，保持检测效率，且能够保证设置温度与实际温度一致，从而检测结果的精准性，同时能够使电资源得到有效利用，降低用电成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 rdt 低温 老化 全自动 测试 设备 | ||
【主权项】：
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