[实用新型]一种晶体测试用载盘双头式微调结构有效
| 申请号： | 202223054359.6 | 申请日： | 2022-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN218122061U | 公开（公告）日： | 2022-12-23 |
| 发明（设计）人： | 葛良清 | 申请（专利权）人： | 四川汇锦升电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28;H03H3/04 |
| 代理公司： | 成都百川兴盛知识产权代理有限公司 51297 | 代理人： | 夏晓明;王云春 |
| 地址： | 646100 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型为石英晶体谐振器测试装置,公开了一种晶体测试用载盘双头式微调结构，包括测试机，所述壳体的内部设置有测试头，所述壳体的内部固定连接有载具，且载具设置在测试头的下方，所述载具的内部设置有放置槽，所述放置槽的内部设置有托盘，所述托盘的底部设置有支撑板，所述支撑板的底部设置有伸缩杆，且伸缩杆的底部固定连接在壳体的底部。通过在壳体内设置伸缩杆，伸缩杆的顶部设置支撑板，支撑板设置在放置槽的中部，可以将托盘放置在支撑板的顶部，伸缩杆收缩将托盘平稳的置于放置槽内，通过在托盘的底部设置对位槽，支撑板的顶部设置对位块，对位块和对位槽的配合，方便推盘平稳的放置支撑板的中心。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体 测试 用载盘双 头式 微调 结构 | ||
【主权项】：
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