[实用新型]用于显微镜观察的试样调平装置有效

专利信息
申请号: 202222788974.3 申请日: 2022-10-20
公开(公告)号: CN218099768U 公开(公告)日: 2022-12-20
发明(设计)人: 彭德民;吕闯;谢高峰;王馨郁;田谱;禹林;何祖海;刘托剑;张聪 申请(专利权)人: 湖南中机申亿检测技术有限公司
主分类号: G02B21/34 分类号: G02B21/34
代理公司: 长沙昌恒达专利代理事务所(普通合伙) 43283 代理人: 胡昌国
地址: 410000 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 本申请实施例公开了用于显微镜观察的试样调平装置,包括:下底座,上端具有凸起的点接触结构,点接触结构用于与试样底面点接触;上压板套,具有供试样嵌入的嵌入空间,与下底座可拆卸连接;弹性压件,连接于上压板套上端,部分伸入嵌入空间或嵌入空间上方,沿一竖向轴线环绕排列有至少三个,用于与试样上表面弹性接触。本申请通过试样上表面与多个弹性压件弹性接触,能实现对试样固定;利用试样底面与点接触结构点接触可实现试样的旋转活动,再配合多个弹性压件与试样上表面的多个位置的弹性接触,实现对试样上表面的调平,避免与试样上下表面的面接触,调平效果好,操作简单。
搜索关键词: 用于 显微镜 观察 试样 平装
【主权项】:
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