[实用新型]一种基于集成电路测试用限位结构有效
| 申请号： | 202222528650.6 | 申请日： | 2022-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN218524763U | 公开（公告）日： | 2023-02-24 |
| 发明（设计）人： | 邱志辉;马演琴 | 申请（专利权）人： | 深圳市金道微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳知帮办专利代理有限公司 44682 | 代理人： | 谭慧 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华新区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于集成电路测试用限位结构，包括夹持框和稳定夹持机构，所述稳定夹持机构设置在夹持框的内部，所述夹持框为凹字形状设置；所述稳定夹持机构包括贴合在夹持框内部的撑托块，所述夹持框内部的左右两侧均开设有滑动仓，所述夹持框内壁的两侧均开设有与滑动仓连通的伸缩道，所述伸缩道的内部滑动连接有若干个均布的夹持杆。本实用新型通过设置稳定夹持机构，利用磁力同极相斥的原理，可通过受力板和夹持杆推动夹持条夹持在电路板的两侧，进而完成对集成电路板的夹持，而磁力的夹持相较于现有弹簧的夹持稳定性高很多，进而完成对集成电路的稳定夹持，方便人们的使用，降低了实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 集成电路 测试 限位 结构 | ||
【主权项】：
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