[实用新型]防电子干扰的测试治具有效
| 申请号： | 202222504835.3 | 申请日： | 2022-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN218497088U | 公开（公告）日： | 2023-02-17 |
| 发明（设计）人： | 管昊;江林华;钱清友 | 申请（专利权）人： | 捷捷半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/18;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 戴尧罡 |
| 地址： | 226000 江苏省南通*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例提供一种防电子干扰的测试治具，涉及测试治具技术领域。防电子干扰的测试治具包括治具平台和屏蔽罩，治具平台的顶部开设有测试槽，测试槽的内部用于安装测试工件，屏蔽罩可拆卸地设置在治具平台的顶部、且封闭测试槽，屏蔽罩包括外壳体和翻转盖板，翻转盖板通过铰链连接于外壳体的顶部。从而在测试的过程中，通过将屏蔽罩安装在治具平台的上方、位于测试工件的外端，通过屏蔽罩能够减小防电子干扰的测试治具中的测试工件受到周围电子设备的电子干扰，同时也能够起到防尘的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 电子干扰 测试 | ||
【主权项】：
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